日本SHINKO新光高精度電子天平ALE2202 一種高性能、高通用性、高精度的精密電子天平（天平），非常適合研究、分析和質量檢驗。
日本SHINKO新光高精度電子天平ALE1502 一種高性能、高通用性、高精度的精密電子天平（天平），非常適合研究、分析和質量檢驗。
日本SHINKO新光高精度電子天平ALE623 一種高性能、高通用性、高精度的精密電子天平（天平），非常適合研究、分析和質量檢驗。
日本SHINKO新光高精度電子天平ALE323 一種高性能、高通用性、高精度的精密電子天平（天平），非常適合研究、分析和質量檢驗。
日本SHINKO新光高精度電子天平ALE223 一種高性能、高通用性、高精度的精密電子天平（天平），非常適合研究、分析和質量檢驗。
日本SHINKO新光分析電子天平HTG224R 顯著提高稱重過程中的響應能力和穩定性。配備新開發的玻璃擋風玻璃的新型號，具有優異的耐化學性。 高分辨率、高性能電子天平，非常適合研究、分析、質量檢查、測試和測量。
日本SHINKO新光分析電子天平HTG124R 顯著提高稱重過程中的響應能力和穩定性。配備新開發的玻璃擋風玻璃的新型號，具有優異的耐化學性。 高分辨率、高性能電子天平，非常適合研究、分析、質量檢查、測試和測量。
日本SHINKO新光分析電子天平HTG84R 顯著提高稱重過程中的響應能力和穩定性。配備新開發的玻璃擋風玻璃的新型號，具有優異的耐化學性。 高分辨率、高性能電子天平，非常適合研究、分析、質量檢查、測試和測量。
日本SHINKO新光分析電子天平XFR-224 追求高測量精度和易用性。 半微量電子天平（天平），最小可讀性為0.00001g（0.01mg），非常適合研究、分析、質量檢驗、測試和測量。
日本SHINKO新光分析電子天平XFR-225W 追求高測量精度和易用性。 半微量電子天平（天平），最小可讀性為0.00001g（0.01mg），非常適合研究、分析、質量檢驗、測試和測量。
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