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  • 日本SHINKO新光分析電子天平
    日本SHINKO新光分析電子天平

    日本SHINKO新光分析電子天平XFR-135 追求高測量精度和易用性。 半微量電子天平(天平),最小可讀性為0.00001g(0.01mg),非常適合研究、分析、質量檢驗、測試和測量。

    更新時間:2026-01-03型號:XFR-135瀏覽量:597
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